Imageur hyperspectral en microscopie IMA^TM

Photon etc. offre la possibilité d'effectuer l'analyse complexe de matériaux (GaAs, SiC, CdTe, CIS, CIGS), grâce à sa plateforme d'imagerie hyperspectrale en réflectance diffuse, en photoluminescence, en électroluminescence et en signal Raman. Notre technologie est basée sur des filtres d'imagerie globale à haut débit, plus rapides et efficaces que les systèmes hyperspectraux utilisant des spectrographes. Prenant des images de 400 à 1000 nm avec une largeur de bande de 2 nm, IMA^TM est capable de mesurer les propriétés opto-électriques comme la tension en circuit ouvert, le rendement quantique externe et permet la détection et la caractérisation rapide des défauts dans les matériaux. Les chercheurs et les analystes du contrôle de la qualité pourront grandement bénéficier de cette innovation.

 Le principe

Le système d’imagerie hyperspectrale de Photon etc. filtre une longueur d’onde à la fois sur l’image entière. À chaque pixel de l’image, le système filtre un faisceau monochromatique dont la longueur d’onde est déterminée par la différence angulaire entre ce faisceau et le faisceau central (longueur d’onde choisie par l’utilisateur). Le gradient en longueur d’onde ainsi produit est corrigé grâce au traitement informatique de la série d’images par PHySpec, notre logiciel d’analyse et de contrôle. PHySpec retournera donc des images monochromatiques aux longueurs d’onde demandées. Différentes sources d’excitation peuvent être inclues : la source supercontinuum , une lampe Xenon, la source laser accordable , etc.

PHySpec permet de contrôler le porte échantillon en translation selon les trois axes xyz et de choisir la longueur d’onde désirée. Ce logiciel permet également d’afficher deux modes : le mode spectral et le mode video.

Mode spectral
Les données enregistrées proviennent du faisceau filtré à une longueur d’onde. Ce mode permet d’obtenir des images monochromatiques de l’échantillon étudié afin de le caractériser.

Mode vidéo
Le faisceau lumineux recueilli n’est pas filtré. Ce mode permet d’observer directement l’intensité totale de la photoluminescence de l’échantillon.

SPÉCIFICATIONS TECHNIQUES