Cartographie hyperspectrale avancée et caractérisation spectrale
Photon etc. fournit des solutions de cartographie hyperspectrale rapides et polyvalentes pour les applications de semiconducteurs les plus exigeantes. Nos systèmes prennent en charge une variété de modalités de test, telles que l’imagerie en réflectance, en transmittance et en photoluminescence (PL). Ils offrent également une résolution limitée par la diffraction, permettant une caractérisation complète et non destructive des propriétés optoélectroniques en quelques minutes seulement.















