Semiconducteurs et optoélectronique

Cartographie hyperspectrale avancée et caractérisation spectrale

Photon etc. fournit des solutions de cartographie hyperspectrale rapides et polyvalentes pour les applications de semiconducteurs les plus exigeantes. Nos systèmes prennent en charge une variété de modalités de test, telles que l’imagerie en réflectance, en transmittance et en photoluminescence (PL). Ils offrent également une résolution limitée par la diffraction, permettant une caractérisation complète et non destructive des propriétés optoélectroniques en quelques minutes seulement.

Produits

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GRAND-EOS™

GRAND-EOS est une caméra hyperspectrale accordable sur la plage spectrale de 400-1650 nm. Ce système...

HyperCube™

L’HyperCube est un filtre hyperspectral accordable de manière continue dans les régions du visible et...

IMA™

IMA est une plateforme de microscopie hyperspectrale qui fournit de l’information spatiale et spectrale dans...

LLTF CONTRAST™

Le LLTF CONTRAST est un filtre pour supercontinuum accordable (400 – 2500 nm) non dispersif...