Imagerie hyperspectrale globale pour la prochaine génération de matériaux avancés
Pour mesurer dans des paramètres réalistes sans endommager le film ou le dispositif
Accélérer le développement de nouveaux matériaux photovoltaïques
Le domaine des matériaux photovoltaïques ne cesse de s'étendre de façon exponentielle et la variété des cellules solaires n'a jamais été aussi large. Malgré les avancées importantes dans ce domaine, les nouveaux venus peinent à être économiquement compétitifs avec les matériaux à base de silicium. Ceci est principalement dû au manque de compréhension et de contrôle de la non-uniformité des couches actives, entravant ainsi l'optimisation des propriétés optoélectroniques. Afin de mettre sur le marché les prochaines générations de cellules solaires, les chercheurs doivent pouvoir étudier la variation spatiale des propriétés de leurs matériaux à plus grande échelle.
Imagerie hyperspectrale
Pour répondre à ce besoin, l'imagerie hyperspectrale, à la fois macro et microscopique, fournit des cartes rapides d'électroluminescence (EL) et de photoluminescence (PL) permettant l'observation spatiale des défauts, des contraintes et des propriétés optoélectroniques. Ces techniques ont déjà été utilisées avec succès pour caractériser les inhomogénéités dans les cellules solaires CIS, CIGS, GAAS et pérovskites.
Calibrage photométrique absolu
De plus, l'étalonnage photométrique absolu fournit un moyen direct de mesurer les variations spatiales de la division de niveau quasi-Fermi (Δμ) et de l'efficacité quantique externe (EQE). Il permet également d'extraire d'autres propriétés optoélectroniques telles que le courant de saturation, le rendement de la cellule solaire, la tension locale de la diode et le rendement de transport de charge.
Imagerie globale
Enfin, l'utilisation de l'imagerie globale au lieu de techniques confocales point par point ou de balayage linéaire permet de sonder les propriétés optoélectroniques dans un état d'équilibre réaliste car elle réduit la diffusion de charge vers les régions plus sombres. Avec un éclairage uniforme, les expériences en PL sont effectuées dans la plage de 0,1 soleil ou jusqu'à 500 soleils, ce qui correspond aux conditions de fonctionnement réalistes des panneaux photovoltaïques.
Leverage the Power of Hyperspectral Microscopy : Discover the IMA
IMA is a hyperspectral microscope delivering spectral and spatial information from 400 nm to 1620 nm in one single instrument. By combining a scientific grade VIS, NIR, and/or SWIR microscope with Photon etc patented imaging filter, extensive optical characterization can be achieved on a wide variety of materials. Our hyperspectral imaging microscope is capable of acquiring millions of data points in a single snapshot and rapidly maps photoluminescence (PL), electroluminescence (EL), fluorescence, reflectance, and transmittance. IMA offers the flexibility to be configured as either a brightfield or a darkfield hyperspectral microscope. Moreover, based on high throughput imaging filters, IMA is a faster and more efficient hyperspectral imaging system than standard point-by-point scanning systems.
Photovoltaic Analysis Made Simple : PLQY and QFLS Mapping in Minutes
Avec l'apparition de nouveaux matériaux photovoltaïques, la cartographie PLQY ne suffit plus pour évaluer les performances. En utilisant les données acquises par le microscope hyperspectral IMA, notre nouveau module logiciel vous permet de générer des cartes de caractérisation photovoltaïque essentielles : PLQY, QFLS et Eg en seulement quelques clics pour une compréhension plus profonde et plus précise.
Que vous débutiez ou que vous soyez au cœur de l'optimisation des matériaux, cet outil est rapide, fiable et prêt à être branché sur votre flux de travail de recherche solaire.